MaterStudiorum.ru - домашняя страничка студента.
Минимум рекламы - максимум информации.


Авиация и космонавтика
Административное право
Арбитражный процесс
Архитектура
Астрология
Астрономия
Банковское дело
Безопасность жизнедеятельности
Биографии
Биология
Биология и химия
Биржевое дело
Ботаника и сельское хоз-во
Бухгалтерский учет и аудит
Валютные отношения
Ветеринария
Военная кафедра
География
Геодезия
Геология
Геополитика
Государство и право
Гражданское право и процесс
Делопроизводство
Деньги и кредит
Естествознание
Журналистика
Зоология
Издательское дело и полиграфия
Инвестиции
Иностранный язык
Информатика
Информатика, программирование
Исторические личности
История
История техники
Кибернетика
Коммуникации и связь
Компьютерные науки
Косметология
Краткое содержание произведений
Криминалистика
Криминология
Криптология
Кулинария
Культура и искусство
Культурология
Литература и русский язык
Литература(зарубежная)
Логика
Логистика
Маркетинг
Математика
Медицина, здоровье
Медицинские науки
Международное публичное право
Международное частное право
Международные отношения
Менеджмент
Металлургия
Москвоведение
Музыка
Муниципальное право
Налоги, налогообложение
Наука и техника
Начертательная геометрия
Новейшая история, политология
Оккультизм и уфология
Остальные рефераты
Педагогика
Полиграфия
Политология
Право
Право, юриспруденция
Предпринимательство
Промышленность, производство
Психология
Психология, педагогика
Радиоэлектроника
Разное
Реклама
Религия и мифология
Риторика
Сексология
Социология
Статистика
Страхование
Строительные науки
Строительство
Схемотехника
Таможенная система
Теория государства и права
Теория организации
Теплотехника
Технология
Товароведение
Транспорт
Трудовое право
Туризм
Уголовное право и процесс
Управление
Управленческие науки
Физика
Физкультура и спорт
Философия
Финансовые науки
Финансы
Фотография
Химия
Хозяйственное право
Цифровые устройства
Экологическое право
Экология
Экономика
Экономико-математическое моделирование
Экономическая география
Экономическая теория
Эргономика
Этика
Юриспруденция
Языковедение
Языкознание, филология
    Начало -> Промышленность, производство -> Измерительный контроль

Название:Измерительный контроль
Просмотров:355
Раздел:Промышленность, производство
Ссылка:Скачать(3619 KB)
Описание: ОГЛАВЛЕНИЕ 1. ТЕХНИЧЕСКАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА КОНТРОЛИРУЕМЫХ ОБЪЕКТОВ И ПАРАМЕТРЫ, ПОДЛЕЖАЩИЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНОМУ КОНТРОЛЮ 2.ОБЗОР МЕТОДОВ И СРЕДСТВ КОНТРОЛЯ ПЛОСКОСТНОСТИ 2.1 Определение отклонений от плоскостнос

Университетская электронная библиотека.
www.infoliolib.info

Часть полного текста документа:

ОГЛАВЛЕНИЕ

1. ТЕХНИЧЕСКАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА КОНТРОЛИРУЕМЫХ ОБЪЕКТОВ И ПАРАМЕТРЫ, ПОДЛЕЖАЩИЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНОМУ КОНТРОЛЮ

2.ОБЗОР МЕТОДОВ И СРЕДСТВ КОНТРОЛЯ ПЛОСКОСТНОСТИ

2.1 Определение отклонений от плоскостности с помощью плит

2.2 Определение отклонений от плоскостности с помощью поверочных линеек

2.3 Определение отклонений от плоскостности с помощью уровней

2.4 Измерение отклонений от плоскостности по положению отдельных точек

2.4.1 Механический плоскомер

2.4.2 Оптико-механический плоскомер

2.5 Гидравлические методы измерения плоскостности

2.5.1 Метод свободно налитой жидкости

2.5.2 Метод сообщающихся сосудов

2.6 Измерение отклонений от плоскостности с помощью оптико-механических приборов

2.6.1 Измерение отклонений от плоскостности коллимационным и автоколлимационным методами

2.6.2 Измерение отклонений от плоскостности методом визирования

2.7 Выбор метода контроля плоскостности

3.РАЗРАБОТКА ФУНКЦИОНАЛЬНОЙ СХЕМЫ УСТАНОВКИ

4.РАСЧЕТ ОПТИЧЕСКОЙ СХЕМЫ

4.1 Расчет объектива

4.2 Расчет светоделительной призмы

4.3 Расчет пентапризмы

4.4 Расчет окуляра

5.ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ РАСЧЕТ

5.1 Расчет коэффициента использования лазера

5.2 Расчет коэффициента светопропускания

5.3 Расчет полного сигнала приемника

5.4 Расчет крутизны сигнальной характеристики

5.5 Расчет уровня сигнала соответствующий дополнительной погрешности

5.6 Соотношение сигнал шум

6. АНАЛИЗ ПОГРЕШНОСТЕЙ УСТРОЙСТВА

6.1 Методические погрешности

6.1.1 Ослабление излучения лазерного диода в воздушном тракте и его влияние на точность работы измерительной системы

6.1.2 Рефракция лазерного луча

6.1.3 Погрешности центрирования от флуктуации показателя преломления воздушного тракта

6.2 Инструментальные погрешности

7. ОПИСАНИЕ КОНСТРУКЦИИ

8.ОПИСАНИЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ СХЕМЫ

9.МЕТОДИКА ЮСТИРОВКИ УСТРОЙСТВА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ ПЛОСКОСТНОСТИ

9.1 Регулировка фокусного расстояния

9.2 Установка диафрагмы в фокальной плоскости объектива

9.3 Контроль направляющих

9.4 Юстировка светоделительного кубика

10.ЭКОНОМИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ

10.1 Определение состава расчета

10.2 Расчет сметы затрат на разработку

10.3 Определение конкурентной цены объекта

10.4Расчет себестоимости изделия

10.5 Определение экономических результатов

11.БЕЗОПАСНОСТЬ ЖИЗНИДЕЯТЕЛЬНОСТИ И ОХРАНА ТРУДА

11.1 Условия эксплуатации устройства

11.2 Анализ и выявление потенциально опасных и вредных факторов на начальной стадии проектирования конструкции устройства для контроля плоскостности

11.3 Расчет лазероопасной зоны

11.4 Описание мероприятий, обеспечивающих безопасность планируемых исследований

11.5 Пожарная безопасность

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ


1.ТЕХНИЧЕСКАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА КОНТРОЛИРУЕМЫХ ОБЪЕКТОВ И ПАРАМЕТРЫ, ПОДЛЕЖАЩИЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНОМУ КОНТРОЛЮ

В качестве контролируемых объектов в задании по дипломному проектированию предложены корпусные детали, станки, машины, приборы, устройства и отдельные элементы. При этом габариты контролируемых деталей не превышают 12х12м, то есть перечисленные изделия относятся к группе среднегабаритных. Основной функциональной характеристикой данных является плоскостность.

Измеряемые данные:

-диапазон измеряемых отклонений ± 1.5 мм;

-диапазон измеряемых отклонений 0.02 мм;

-габариты контролируемых деталей 12х12м.

В соответствии с ГОСТ-24642-81(СТ СЭВ 301-76) под понятием отклонения от плоскостностности понимают наибольшее расстояние ∆ от точек реальной поверхности до прилегающей плоскости в пределах нормируемого участка (рис.1).

рис.1

∆ - отклонение формы, отклонение расположения или суммарное отклонение формы и расположения.

L-длина нормируемого участка.

Т – допуск формы, допуск расположения или суммарный допуск формы и расположения.

Определим некоторые термины.

Установленные термины и определения рекомендуется применять для сборочных единиц машин и приборов в машиностроении и других отраслях промышленности.

Реальной поверхностью называют поверхность, ограничивающую деталь и отделяющую ее от окружающей среды.

Прилегающей плоскостью называют плоскость, которая соприкасаясь с реальной поверхностью и расположенная вне материала детали так, чтобы отклонение от нее наиболее удаленной точки реальной поверхности в пределах нормируемого участка имело минимальное значение.

Реальной поверхностью называют поверхность, ограничивающую деталь и отделяющую ее от окружающей среды.

Под допуском плоскостности называется наибольшее допускаемое значение отклонений от плоскостности.

Под полем допуска плоскостности называют область в пространстве, ограниченной двумя параллельными плоскостями, относящими друг от друга на расстоянии равном допуску плоскостности Т (рис.2).


рис.2

Нормируемым участком называется участок поверхности, к которому относится допуск или отклонение формы или расположение элементов.

Нормируемый участок должен быть задан размерами, определяющими его площадь, длину или угол сектора, а в необходимых случаях и расположение участка на элементе.

Для криволинейных поверхностей или профилей нормируемый участок может задаваться размерами проекции поверхности или профиля.

Если расположение нормируемого участка не задано, то может занимать любое расположение в пределах всего элемента.

При измерении отклонений формы допускается их количественная оценка относительно среднего элемента. ............





Нет комментариев.



Оставить комментарий:

Ваше Имя:
Email:
Антибот:  
Ваш комментарий:  



Похожие работы:

Название:Эпитаксиальный рост простых полупроводников Si и Ge на поверхности Si(111)
Просмотров:677
Описание: Введение С физикой тонких пленок связаны достижения и перспективы дальнейшего развития микроэлектроники, оптики, приборостроения и других отраслей новой техники. Успехи микроминиатюризации электронной ап

Название:Эпитаксиальный рост Ge на поверхности Si(100)
Просмотров:658
Описание: Содержание Введение Обзор литературы Ge-Si гетероструктуры с квантовыми точками Фундаментальные предпосылки Рост и особенности упорядочения ансамблей Ge нанокластеров. Поверхность кремния (100) Морфоло

Название:Регистратор колебаний поверхности земли
Просмотров:665
Описание: 1. Введение Тема курсового проекта «Регистратор колебаний поверхности земли ». Одним из важнейших факторов, определяющим темпы научно-технического прогресса в современном обществе, являются СВТ (средства в

Название:Подготовка поверхности и нанесение лакокрасочных материалов
Просмотров:353
Описание: Подготовка поверхности и нанесение лакокрасочных материалов Главная задача и обязанность инспектора – контроль за выполнением очистных и окрасочных работ и оценка соответствия качества работ требованиям

Название:Расчет электронной схемы включения приемника излучения, согласованной с усилительной схемой по сигналу
Просмотров:397
Описание: МОСКОВСКИЙ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ (ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ) Кафедра Светотехники Типовой расчет по курсу «Приемники излучения» «Расчет электронной схемы включения приемника изл

 
     

Вечно с вами © MaterStudiorum.ru